Интерферометр OptoTL-60/125

Интерферометр OptoTL-60/125 предназначен для бесконтактного технологического контроля точности формы (N/ΔN) оптических полированных плоских и сферических поверхностей диаметром до 125 мм, измерения их радиусов, а также для проверки искажения волновых фронтов объективов.

Характерные особенности интерферометра OptoTL– 60/125:

  • небольшие габариты для размещения на производстве рядом с оптическими станками;
  • специально разработанное оригинальное программное обеспечение FastInterf для оперативных измерений в производственных условиях;
  • оригинальная программа калибровки линейки для измерения радиусов;
  • наличие двух мониторов для быстрой юстировки и визуализации интерференционной картины;
  • New!наличие двух источников света (когерентный и некогерентный) для уменьшения влияния отражения второй стороны при контроле плоскопараллельных пластин (опция);
  • моторизованное быстрое вертикальное перемещение серводвигателем;
  • моторизованное точное вертикальное перемещение при помощи генератора импульсов с чувствительностью 30 нм;
  • New!автоматическое вертикальное перемещение на заданную величину (из положения «кошачий глаз» в конфокальную позицию и наоборот) (опция);
  • два типо-размера эталонных объективов 60 мм и 125 мм с адаптером 60/125;
  • юстировочный столик для наклона и перемещения контролируемых образцов;
  • наличие базовых поверхностей для столика и контролируемых деталей для упрощения юстировки при контроле партии одинаковых деталей;
  • приспособление для наклона крутых блоков (опция);
  • основание и вертикальная стойка из синтеграна для лучшего гашения вибраций;
  • пассивная система виброизоляции достаточная для работы в производственных условиях;
  • интерферометр поставляется «под ключ» в комплекте со всем необходимым, чтобы запустить и начать работу.

Технические характеристики интерферометра OptoTL-60/125

Оптическая схема Физо
Расположение оптической оси схемы контроля Вертикальное
Тип поверхностей контролируемых деталей
  • Оптическая
  • Полированная
Форма контролируемых поверхностей
  • Плоская
  • Сферическая (при наличии эталонных объективов)
Коэффициент отражения контролируемых поверхностей
1-99%
Оптический zoom, крат 6
Диапазон контролируемых диаметров:
  • плоские поверхности
  • сферические поверхности

  • 5 мм – 125 мм
  • 5 мм – 125 мм (определяется апертурой используемого объектива)
Диапазоны радиусов при измерении точности формы поверхностей:
  • выпуклые (CX)
  • вогнутые (CC)

  • 900 мм – 3 мм
  • 3 мм – 1100 мм (определяется набором эталонных объективов)
Диапазон измеряемых радиусов:
  • выпуклые (CX)
  • вогнутые (CC)

  • 350 мм – 3 мм
  • 3 мм – 350 мм
Точность измерения радиусов поверхностей (в зависимости от номинала) 2-10 мкм
Погрешность измерения, P-V
  • плоские поверхности
  • сферические поверхности

  • λ/20
  • λ/10, λ/20 (опция)
Максимальное измеряемое отклонение
Основной источник излучения Лазерный модуль 633-660 нм
Дополнительный источник излучения (опция) Лазерный модуль 633-660 нм
Масса прибора
<=180 kg
Габаритные размеры:
  • длина
  • ширина
  • высота

  • <=450 мм
  • <=500 мм
  • <=1000 мм