Интерферометр OptoTL-300

Интерферометр OptoTL-300 предназначен для бесконтактного технологического контроля точности формы (N/ΔN) оптических полированных плоских поверхностей диаметром до 300 мм, искажения проходящего волнового фронта плоскопараллельных пластин, клиновидности прозрачных плоскопараллельных пластин.

Характерные особенности интерферометра
OptoTL– 300:

  • небольшие габариты;
  • специально разработанное оригинальное программное обеспечение FastInterf для оперативных измерений в производственных условиях;
  • (new) наличие дополнительного канала для предварительного поиска отражения от контролируемой поверхности (канал быстрого поиска);
  • (new) наличие трех мониторов или трех дополнительных окон на компьютерном мониторе для быстрой юстировки и визуализации интерференционной картины при настройке;
  • (new) наличие двух источников света (когерентный и некогерентный) для уменьшения влияния отражения второй стороны при контроле плоскопараллельных пластин (опция);
  • моторизованное вертикальное перемещение серводвигателем;
  • (new) блок аварийной остановки перемещения при слишком близком приближении к детали для предотвращения соприкасания эталона с контролируемой поверхностью;
  • юстировочный столик для наклона контролируемых деталей;
  • основание из натурального камня или синтеграна для лучшего гашения вибраций;
  • пассивная система виброизоляции достаточная для работы в производственных условиях;
  • измерение клиновидности прозрачных плоскопараллельных пластин (при наличии дополнительной референтной пластины) (опция);
  • интерферометр поставляется «под ключ» в комплекте со всем необходимым, чтобы запустить и начать работу.

Технические характеристики интерферометра OptoTL–300

Параметры Значение
Оптическая схема Физо
Расположение оптической оси схемы контроля Вертикальное
Тип поверхностей контролируемых деталей
  • Оптическая
  • Полированная
Форма контролируемых поверхностей Плоская
Коэффициент отражения контролируемых поверхностей 1-99%
Оптический zoom, крат 6
Диапазон диаметров:
  • плоские поверхности

30 мм – 300 мм
Погрешность измерения, P-V λ/10
Максимальное измеряемое отклонение
Пределы измерения клиновидности прозрачных пластин (в зависимости от диаметра), сек 120
Погрешность измерения клиновидности плоскопараллельных пластин не более, сек 0.5
Основной источник излучения Одночастотный лазерный модуль 633 нм
Дополнительный источник излучения (опция) Лазерный модуль 660 нм
Масса прибора, не более, кг 500
Габаритные размеры:
  • Длина
  • Ширина
  • Высота
 
  • <=550 мм
  • <=750 мм
  • <=950 мм